Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, coated conductors, REBCO, nanodoping, critical current density, angular dependence, TFA-MOD process, PLD process, fabrication, defects, critical current, homogeneity, long conductors, thickness dependence, angular dependence, critical current density, critical caracteristics, experimental results, pinning centers artificial, grain size, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.